波长色散型X射线荧光光谱仪(‌Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer, WDXRF‌)是一种基于‌X射线荧光原理‌的高精度成分分析仪器，通过测量样品受激发后发射的‌特征X射线波长‌进行元素定性与定量分析。其核心优势在于‌分辨率极高、准确度优异‌，尤其适合复杂基质样品中微量元素的精确测定。

　　‌1，核心工作原理‌。

　　‌样品激发‌：高功率X光管(通常铑靶)照射样品，使原子内层电子被轰击脱离，形成空穴。

　　‌特征X射线发射‌：外层电子跃迁至内层填补空穴时，释放能量产生‌元素特异性X射线荧光‌(每种元素有固定波长)。

　　‌波长色散与检测‌：通过晶体(如LiF、PET、TAP)根据‌布拉格衍射定律‌(nλ=2d sinθ)按波长精确分光。衍射后的单色X射线由‌闪烁计数器(SC)‌ 或‌流气正比计数器(FPC)‌接收，转换为电信号。

　　‌数据处理‌：通过扫描分光晶体角度(2θ角)，获取全元素谱图，软件比对强度与标准曲线计算浓度。

　　‌2，核心技术优势‌。

　　‌ 超高分辨率：分光晶体可将相邻元素谱线分离(如Mn Kα与Cr Kβ间距仅0.03°)，避免谱线重叠干扰。

　　‌ 高精度/低检出限：轻元素(Na-Mg)检出限达‌ppm级‌，重元素(U-Cd)可达‌ppb级‌

　　‌ 宽动态范围‌：可同时分析ppm至100%含量元素(如矿石中痕量Au与主量Fe)。

　　‌ 无损分析‌：无需破坏样品，固体、粉末、液体均可直接测量。

　　‌ 稳定性优异‌：恒温真空/氦气环境减少信号漂移，长期稳定性RSD<0.1%。

　　‌3，关键系统组成‌。

　　‌ X射线光源：高功率X光管(3-4 kW)、高压发生器。

　　‌ 分光系统：晶体交换器(4-8块晶体覆盖不同波长)、测角仪(精度0.0001°)。

　　‌ 探测系统：闪烁计数器(重元素)、流气正比计数器(轻元素)。

　　‌ 环境控制：真空/氦气通道(减少空气对轻元素X射线的吸收)。

　　‌ 多维样品台：XYZ自动定位，支持多位置分析(如镀层截面成分扫描)。

　　‌4，典型应用场景‌。

　　‌地质矿产‌：矿石中痕量贵金属(Au, Pt)分析，稀土元素定量

　　‌环境监测‌：土壤/污泥中重金属污染(Cd, Pb, As)检测

　　‌电子材料‌：PCB镀层厚度(Au/Ni/Cu)及成分分析

　　‌玻璃陶瓷‌：SiO₂/Al₂O₃等主成分与着色剂(Co, Cr)控制

　　‌石油化工‌：润滑油添加剂(Ca, Zn, P)含量测定

　　波长色散型X射线荧光光谱仪凭借其‌无可替代的分辨率与精度‌，已成为高端材料分析、科研及标准认证实验室的‌基准设备‌，尤其适合法规严苛领域(如RoHS、FDA合规性检测)。